
Blue
lighting technology
with LEDs và
LDs
:
Phương pháp
ngưng đọng hơi hóa học metalô- organô
(metalorganic
chemical vapor deposition hay MOCVD) - Part II
Trần
Trí Năng
(Univ. of Minnesota & Ecosolar International)
Đây là
bài cuối của loạt bài về blue lighting technology with LEDs và LDs.
Trong bài này, chúng tôi sẽ tŕnh bày một số các loại organometallic,
hydrides và dopant gases dùng trong buồng phản ứng của hệ thống MOCVD.
Trường hợp đơn giản liên quan đến phản ứng nhiệt phân của những chất ở
thể hơi của những họp chất metalô – organô dễ bay hơi (volatile
organometallic compound) và hydride ở
thể khí được biểu hiện như sau:
RnA
+DHn ---à AD + nRH
Ở đây R là gốc hữu cơ (organic radical) như
là gốc methyl (CH3 )
hay gốc ethyl (C2H5 ); A đại diện nguyên tử kim
loại thuộc nhóm III như Ga, Al, In và D biểu hiện nguyên tử thuộc
nhóm V. Sự liên quan giữa áp suất hơi và nhiệt độ cũng được tŕnh bày
ở phần cuối của bài viết.
Từ khóa: organometallic gases, hydrides, vapor
pressure, TMGa, TMAl, TMIn, arsine, phosphine, bond strength, metal
alkyl gases, TTV-TWA, TTV-STEL, IDLH, OSHA.
1. Lời tựa
Hôm nay là ngày Lễ Lao Động ở Mỹ (2 tháng 9).
Nói đến lao đông, thói đời thường chia ra hai loại lao động chính
liên quan đến sinh kế: lao động đầu óc và lao đông chân tay.
Lao động nào cũng cao cả và đáng quí cả.
Nhiều người nghĩ nghề “ buôn thúng bán mẹt”
của má tôi là nghề lao động tay chân, dành cho hạng “cùng đinh” trong
xă hội. Tôi th́ không nghĩ như thế : tôi nghĩ đây là một “small
business” v́ ngoài công việc mang gánh bún cá đi bán mỗi ngày, bà
phải tính toán mua bán làm sao có lợi và phải cạnh tranh với những
gánh hàng rong khác để có thể bán hết gánh hàng mỗi ngày.
Vi thế lao động này là sự kết nối của lao
động tay chân và lao động đầu óc. Một mặt khác,
đối với những người làm công tác R&D như chúng tôi, chúng tôi
cũng làm cả hai loại lao đông này cùng một lúc : lúc viết đề án, kế
hoạch, bài báo cáo ; chúng tôi làm công tác lao đông đầu óc; nhưng
cũng có những lúc máy bơm chân không bị hư hay ông gas bị rỏ rỉ hay
phải thiết kế và lắp đặt hệ thống dẫn gas mới, chúng tôi lại làm công
tác lao động tay chân. Trừ những trường họp rất đặc biệt, chúng tôi
thường mua các bô phận về tự lắp lấy các
hệ thống chế tạo màng mỏng; hoặc đối với những hệ thống lớn quá, th́
chúng tôi tư thiết kế rồi đặt mua toàn hệ thống. Dù ở trường hợp nào
đi nữa chúng tôi cũng thườn tự làm hệ thống dẫn gas để “tiết kiệm”
được một phấn kinh phí và quan trọng nhất là được “ tự do” thực hiện
những ǵ ḿnh muốn làm và sau này nếu chất khí có “ṛ rỉ”, ḿnh dễ
biết bắt đầu từ chỗ nào.
Với tôi, một trong những thú
vị khi làm việc với các hệ thống chế tạo màng mỏng là thiết kế và lắp
nối các ống dẫn gas từ b́nh chứa gas đến buồng phản ứng và từ buồng
phản ứng đến nơi thoát khí và làm thế nào để giữ các ống dẫn gas
ngắn, tránh ṛ rỉ (leaking) và để có “conductance” cao. Công tác này
cũng chẳng khác công tác của một người thợ
làm ống gas bao nhiêu; có điều ống gas chúng tôi dùng electropolished
stainless steel với đường kính ngoài ¼ inch và chúng tôi phải làm
việc với process gases trong kỹ nghệ bán dẫn mà phần lớn hoặc là rất
độc, có khả năng ăn ṃn, hoặc dễ cháy. Nên công việc làm phải rất
thận trọng hơn v́ “mistakes will not be acceptable”.
Lần đầu tiên tôi thực sự làm
ống gas là lúc làm việc trong kỹ nghệ với hệ thống ngưng đọng hơi hóa
học bằng plasma (PECVD) để chế tạo amorphous silicon (a-Si:H) solar
cells. Ba chất khí quan trọng để chế tạo linh kiện bán dẫn này là:
silane (SiH4, dễ cháy) dùng để tạo lớp intrinsic amorphous
silicon; phosphine (PH3, rất độc) hỗn hợp với silane để tạo
lớp n-type a-Si:H ; và diborane (B2H6,
rất độc) dùng để tạo lớp p-type a-Si:H.. Độ an toàn của phosphine và
diborane nằm vào khoảng dưới 1 phần triệu
(ppm hay parts per million). Các ống gas v́ thế phải leak-tight và
chung quanh buồng chứa gas và buồng phản ứng thường được trang bị
với hệ thống cảm biến gas. Đầu thập niên 80’s, chúng tôi chỉ có một
portable helium leak detector do hăng Veeco chế tạo trong pḥng
nghiên cứu, nên chúng tôi phải thay phiên nhau dùng trong công tác
leak check riêng của ḿnh. Sau này tiên tiến hơn và tài chánh rộng răi
hơn, chúng tôi có một redsidual gas analyzer (RGA) cho mỗi hệ thống
màng mỏng nên công tác leak checking cũng
đơn giản và đỡ mất th́ giờ hơn. Trước đó, tôi có làm hệ thống dẫn ống
gas cho hệ thống phún xạ ca-tốt; nhưng v́ puttering gas là argon,
một chất khí trơ nên nếu có ṛ rỉ cũng không nguy hiểm; c̣n silane là
chất dễ cháy khi gặp không khí nhưng cũng không đến nỗi nào phải thận
trọng cho lắm. Tôi c̣n nhớ lúc ̣n ở đại học, có vài lần khí silane nổ
như “đóm pháo bông” rồi cho ra khói trắng (b́nh chứa silane để trong
cái locker); chúng tôi đứng quan sát và đôi khi c̣n cười vui khoái
chí. Không biết mấy ông thầy có biết không, nhưng có biết chắc cũng bỏ
qua không nói ǵ. Lúc đó, chính sách
an toàn ở đại học không khó khăn như ở
trong kỹ nghệ! Nói đến kỹ nghệ, tôi mới nhớ là mỗi lần một hệ thống
chế tạo màng mỏng có liên quan đến chất khí độc,
dễ cháy, là phải tŕnh bày mọi thủ tục vận hành với ủy ban an toàn
của hăng. Họ phải kư tên chấp thuận, ḿnh mới có thể vận
hành chiếc máy.
2
Cơ cấu
tổng quát của hệ thống MOCVD
MOCVD
có nguyên tắc vận hành giống LPCVD ; sự
khác nhau chính nằm ở nguồn metalô – organô (organometallic) dùng
trong MOCVD. Đại khái, hệ thống MOCVD có những thành phần chính như :
buồng phản ứng (reactor) nơi hydride gases và metal alkyl gases hỗn
hợp, hệ thống nung nóng (heating systems), hệ thống làm sạch chất khí
(gas purification system), bộ phân phối chất khí (gas manifold
system), hệ thống pump và kiểm soát áp suất trong pḥng phản ứng
(pumping & pressure control system), máy sục khí (bubblers), thiết bị
lọc khí/thoát khí (scrubbers/ exhaust gas treatment system) và buống
giữ b́nh gas (gas cabinets). Biểu hiện ở h́nh 1 là sơ đồ diễn tả sự
phân phối của các chất organometalic với hydrides trong pḥng phản ứng
của MOCVD [1,2]. Ở h́nh
này, trimethyl gallium (TMGa), ammonia và hydrides được đưa vào buồng
phản ứng của hệ thống MOCVD. Với nhiệt đô gia
tăng, các chất alkyls bị “tách ra” ở gần
hay ngay trên bề mặt nơi phản ứng của chất khí này với hydrides xảy ra.
V́ các chất organometallic gas như TMGa
hay TMAl có áp suất hơi rất cao, nên các chất khí này thường được giữ
trong b́nh Dewar ở nhiệt đô thấp dưới 0 C.

Fig. 1: Schematic
of a simple MOCVD system [3]
3. Danh sách các loại gas dùng trong hệ
thống CVD
Hầu hết các chất khí trong CVD độc,
dễ cháy, có khả năng ăn ṃn, dễ gây ung thư (như carcinogenic) hay là
tổng hợp của tất cả những đặc tính này, gây tổn hại và nguy hiểm sức
khỏe của người điều hành hệ thống, ăn ṃn
máy móc, phân tán các chất hóa học trong dầu bơm và các ống dẫn gas
[2].
3-1 Các loại gas dùng trong CVD
Các chất khí dưới đây, với độ độc được xếp từ cao
đến thấp theo tỷ
lệ tương đối: Arsine, diborane, phosphine, hydrogen chloride và
ammoniac (bảng 1)*).
Tên hóa học |
Kư hiệu
hóa học |
Dễ cháy |
Độ nguy hiểm đến sức khỏe |
TLV-TWA (ppm) |
STEL (ppm) |
IDHL (ppm) |
Ammoniac |
NH3 |
X |
2 |
25 |
35 |
500 |
Argon |
|
|
0 |
--- |
--- |
--- |
Arsine |
AsH3 |
X |
4 |
0.05 |
--- |
6 |
Boron
trichloride |
BCl3 |
|
3 |
1 |
--- |
100 |
Boron
trifluoride |
BF3 |
|
3 |
1 |
--- |
100 |
Chlorine |
Cl2 |
|
3 |
0.5 |
1 |
30 |
Carbon
dioxide |
CO2 |
|
1 |
5000 |
30000 |
50000 |
Diborane |
B2H6 |
|
3 |
0.1 |
0.3 |
40 |
Dichlorosilane |
SiH2Cl2 |
|
3 |
5 |
--- |
100 |
Helium |
He |
|
0 |
--- |
--- |
--- |
Hydrogen |
H2 |
X |
0 |
--- |
--- |
--- |
Hydrogen
bromide |
HBr |
|
3 |
3 |
--- |
50 |
Hydrogen
chloride |
HCl |
|
3 |
5 |
--- |
100 |
Nitrogen |
N2 |
|
0 |
--- |
--- |
--- |
Nitrogen
trifluoride |
NF3 |
|
3 |
10 |
15 |
2000 |
Nitrous oxide |
N2O |
X |
2 |
50 |
--- |
--- |
Oxygen |
O2 |
X |
0 |
N/A |
N/A |
N/A |
Phosphine |
PH3 |
X |
4 |
0.3 |
1 |
200 |
Silane |
SiH4 |
x |
4 |
5 |
--- |
--- |
Silicon
tetrachloride |
SiCl4 |
|
3 |
5 |
--- |
100 |
Sulfur
hexafluoride |
SF6 |
|
3 |
100 |
1250 |
--- |
Tetrafluoromethane |
CF4 |
X |
3 |
|
|
|
Tungsten
hexafluoride |
WF6 |
|
3 |
3 |
6 |
--- |
Tetraortho
silicate (TEOS) |
(C2H5)4SiO4 |
X |
2 |
10 |
--- |
1000 |
Bảng 1:
Tóm tắt những chất khí chính dùng trong CVD
và những tiêu chuẩn an toàn [3,4,5]
*)
Trong danh sách này, arsine, phospoine,
diborane, hydrogen, silane cũng thường được dùng trong hệ thống chế
tạo màng mỏng MOCVD.
-
TTV-TWA: Mức độ an
toàn. Đây là mức độ gas mà con người có thể tiếp xúc mỗi ngày mà không
sợ ảnh hưởng ǵ tới sức khỏe
- TLV-STEL: Mức độ gas có thể tiếp xúc trong một thời gian ngắn. Thời
gian tiếp xúc không quá 4
lần/ngày và mỗi lần không quá 15 phút
- IDLH: Có thể nguy hiểm đến tính mạng ngay cả khi tiếp xúc trong một
khoảng thời gian ngắn.
Giới hạn của OSHA: arsine (0,05
ppm), diborane (0,1 ppm), phosphine (0,3 ppm), hydrogen chloride (1
ppm) và ammonia (50 ppm).
3-2 Các chất khí thường
dùng trong hể thống MOCVD
Bảng 2 kê khai một số chất
khí thường dùng trong việc chế tạo chất bán dẫn thuộc III-V và II-VI
groups. V́ tên các chất khí này khá dài,
nên thông thường tên ngắn được dùng ; chẳng hạn thay v́ gọi
trimethylgallium, chúng ta dùng TMGa ; ở đây TM là tên viết ngắn của
trimethyl. (CH3)3 Tương
tự như vậy, TE là tên rút gọn của triethyl. (C2
H5 )3 Thế nên, công
thức hóa học của TMGa và TEGa theo thứ tự là (CH3)3
Ga và . (C2 H5 )3
Ga . Tương tự như thế, công thức hóa học của trimethylaluminum
TMAl và triethylaluminum theo thứ tự là
(CH3)3 Al và (C2 H5 )3
Al .
Nguồn khí của các chất khí thông thường khác [3,4,6]
là:
Selenium: H2Se
Sulfur: H2S
Zinc: Diethylzinc (DEZinc),
dimethylzinc (DEZinc)
Nitrogen: ammonia,
t-butylamin (TBA), phynilhydrazine (PhHy), dimethylhydrazine (DMHy).
Bảng 2 liệt kê danh sách các
chất khí meta-lô – organô dùng trong hệ thống MOCVD.
Tên chất khí |
Tên viết ngắn |
Melting temperature(C) |
Trimethyl aluminum |
TMAl |
15,4 |
Triethyl aluminum |
TEAl |
-52,5 |
Trimethyl gallium |
TMGa |
-15,8 |
Triethyl gallium |
TEGa |
-82,3 |
Trimethyl arsenic |
TMAs |
-87 |
Triethyl arsenic |
TEAs |
-91 |
Dimethyl cadmium |
DMCd |
-4,5 |
Trimethyl indium |
TMIn |
5,5 |
Triethyl indium |
TEIn |
|
Dimethyl mercury |
DMHg |
-15,4 |
Trimethyl phosphine |
TMP |
-85 |
Diethyl phosphine |
DEP |
|
Triethyl phosphine |
TEP |
-88 |
Diethyl selenide |
DESe |
|
Dimethyl zinc |
DMZn |
-42 |
Diethyl zinc |
DEZn |
-28 |
Diethylsufide |
DES |
-100 |
Dimethyl ditelluride |
DMDTe |
|
Dimethyl telluride |
DMTe |
-10 |
Diethyl selenide |
DESe |
|
Tetramethyl tin |
TMSn |
-54,8 |
Tetraethyl tin |
TESn |
-112 |
Bảng 2: Danh sách một số organo-metallic
dùng trong MOCVD [3, 4,6]
Ưu, khuyết điểm và ky hiệu hóa học của những
precursors thuộc group V, group III và
dopants được biểu hiện ở Bảng
3. Những đặc tính mong muốn của
precursors là: độ độc
hại thấp, trạng thái lỏng ở
nhiệt độ pḥng, áp xuất hơi (vapor pressure) thích hơp ở nhiệt độ
pḥng, độ nhiễm bẩn (contamination) với carbon thấp ngoại trừ trường
họp lượng carbon trở nên cần thiết cho một số áp dụng, độ ổn định dài
hạn cao, và rẻ. Ưu, khuyết điểm của một
số precursors đai diện của group V, groups III và lượng dopants được
biểu hiện ở Bảng 3



Bảng
3: Ưu, khuyết điểm và kư hiệu hóa học của
một số precursors thông thường trong hệ thống MOCVD [4].
Cấu tạo hóa học của
AsH3 , DMZn và TMGa trong Bảng 3 được biểu hiện ở H́nh 2.

H́nh 2.
Cấu tạo hóa học của một số precursors trong
Bảng 3 [4].
4. Phản ứng của chất khí trong hệ thống
MOCVD
Thông thường, những liên hệ sau đây được khảo sát:
(i) nhiệt độ nhiệt phân (pyrolysis temperature) và độ ổn định gia tăng
với sức mạnh liên kết (bond strength) ;
(ii) sức mạnh liên kết tỉ lệ nghịch với số C trong cấu tạo hóa học
của các chất dùng. Thí dụ :
Nhiệt độ nhiệt phân gia tăng theo thứ tự như
sau :
TBAs ---à
TEAs--à TMAs---à
AsH3
Hay TEGa --à
TMGa
Thêm vào đó, độ phân ly (decomposition) xảy
ra theo tứ tự sau:
TMGa --à
Ga
Phản ứng hóa học cũng có
hai loại : phản ứng đồng nhất (homogeneous reaction) và phản ứng không
đồng nhất (heterogeneous reaction). Phản ứng đồng
nhất thường xảy ra ở trạng thái khí (gas phase) hay ở boundary
layer; phản ưng có thể xảy ra độc lập với sự xung đột với những phân
tử thêm vào. Trong khi đó phản ứng không
đồng nhất thường xảy ra ở tường của buồng phản ứng hay trên bề mặt
của tấm nền. Phản ưng này thường xảy ra ở
nhiệt độ thấp hơn là phản ứng đồng nhất.
Chúng ta cùng có thể hiểu
được cơ cấu vận hành của quá tŕnh h́nh thành những hỗn họp
chất bán dẫn bằng cách khảo sát những phản ứng hóa học căn bản nhưng
quan trọng.
Trường họp đơn giản liên quan đến phản ứng nhiệt
phân của những chất ở thể hơi của volatile
organometallic compound and hydride ở thể khí :
RnA +DHn ---à
AD + nRH (1)
Ở đây R là gốc hữu cơ như gốc methyl CH3
hay gốc ethyl (C2H5 ); A đại diện nguyên
tử kim loại thuộc nhóm III như Ga, Al, In và D biểu hiện nguyên tử
thuộc nhóm V; cả hai loại nguyên tử rất cần thiết trong việc tạo
thành chất bán dẫn mong muốn. Một thí dụ liên quan
đến trường hợp đơn giản khi chế tạo GaAs có
thể xảy ra như sau [4,5]:
(CH3)3 Ga+ AsH --à
GaAs + 3CH4 (2)
Thí dụ như GaN có thể tạo được bắng cách cho
hơi của TMGa vận chuyển với sự trợ giúp của một carrier gas như
hydrogen và ammonia (NH3) được cho
vào buồng phản ứng một lược; lúc đó tấm nền như sapphire được nung nóng
tới nhiệt độ cao vào khoảng 800-1,000°C. Ammonia
có độ tinh khiết rất cao khoảng 99.9999+; c̣n hydrogen, trước
khi chạy vào b́nh chứa TMGa phải chạy qua một hệ thống tinh lọc với
màng palladium ( a palladium membrance purifier).
(CH3)3 Ga +
NH3)--à
GaN + 3CH4 (3)
Phản ứng của chất khí trong
việc tạo thành epitaxy trên vật nền được biểu hiện một cách tổng quát
ở H́nh 3.


H́nh 3.
Phản ứng của chất khí trong việc
tạo thành epitaxy trên vật nền (tài liệu từ Samsung ‘s Advanced
Institute of Technology).
Họp chất tam nguyên (ternary compound)
được tạo thành bằng cách để TMAl hay TMIn phản ứng cùng một lúc
với TMGa theo phản ứng (4) . bằng cách
điều chỉnh thành phần của TMAl với TMGa hay TMIn với TMGa [5,9]
x(CH3)3
Al + (1-x) (CH3)3 Ga + NH3
---à AlxGa1-x
N (4)
The organometallics được chuyển đến tấm nền
nung nóng bởi carrier gas, thường là khí H2
or N2 bằng cách cho H2
or N2 chạy qua
organometallic ; chất này được chứa trong a bubbler vessel ở một
nhiệt độ được kiểm soát để giữ hổn hợp ở trạng thái đang nấu chảy.
Một số lớn hỗn họp
organometallic đă được nghiên cứu như tài liệu nguồn (sources) cho
MOCVD process; nhưng có lẽ nguồn quan trọng nhất là trimethylgallium (TMGa),
trimethylaluminum (TMAl), and trimethylindium (TMIn).
Nguồn organometallic lư tưởng
là chất khí phải được tổng hợp dễ dàng, có độ thuần khiết cao và
phải có áp suất hơi thích hơp (reasonable); từ “reasonable” ở đây có
liên quan đến tính cách thực hành khi dùng nhiều nguồn gases với
nhau. Thường những chất này có dạng chất lỏng,
với ngoại lệ của TMIn ; đây là một chất rắn với áp suất hơi thích hợp..
Quản ly nhiệt độ
(thermal management) và thành phần các chất hóa học trong chất khí la
hai yếu tố quan trọng trong việc thực hiện
epitaxy :
(i) Quản ly nhiệt độ
sẽ ảnh hưởng đến: hệ số vận chuyển (transport coefficient), tỷ suất
phản ứng, incorporation of dopants và thành phần của màng
mỏng ; (ii) thành phần của chất khí ảnh
hưởng đến tính năng của linh kiện bán dẫn chẳng hạn như màu sắc của
LEDs có thể thay đổi dựa vào tỉ số In/Ga trong chất bán dẫn Inx
Ga1-x N.
5. Sự liên
quan giữa áp suất và nhiệt độ của chất khí
Áp suất khí của nguồn
metalorganics rất quan trọng trong MOCVD trong việc quyết định
nồng độ của các chất hóa học trong nguồn chất khí trong buồng phản ứng
và độ thành trưởng màng mỏng. Nếu áp suất hơi quá thấp, việc vận
chuyển nguồn chất khí vào vùng tạo màng
mỏng sẽ trở nên khó khăn và v́ thế khó đạt được độ thành trưởng màng
mỏng thích họp. Ngược lại, khi áp suất hơi quá
cao, sẽ gây ra vấn đề an toàn nếu gặp phải chất khí độc. Thêm vào đó,
việc vận chuyển sẽ dễ dàng hơn với nguồn chất
lỏng hơn là chất rắn.
Vapor pressure của organometallic liên quan đến
nhiệt độ như sau:
Log [p(torr)]= B- A/T
B, A: hằng số ; T=
nhiệt độ; p= áp suất khí với đọn vị Torr. [Bảng
4].

Bảng 4 Vapor
pressure vs nhiệt độ của một số MO
source [9].
Bảng 5 tóm tắt áp suất khí vs nhiệt độ của một số MO source [9]. B
và A có phần khác giữa bảng 4 và bảng 5. Thí dụ for TMAl, A= 2780, B=
10.48 ở bảng 4 trong khi đó ở bảng 5, A= 2134.83 và B= 8.224.



6. Tài liệu tham khảo
[1]
http://www.erct.com/2-ThoVan/TTriNang/MOCVD-8/MOCVD-8-Part-1.htm
[2]
http://www.erct.com/2-ThoVan/TTriNang/LED-Part-5.htm
[3] Thin film deposition, ed. by K. Seshan, Noyes
Publications, 2011
[4] R.D.Dupuis Journal of
Crystal Growth 178 (1997) 56.
[5] J.L. Vossen, W. Kern, Thin Film Processes,
Academic Press, 1991.
[6]Nang Tran : Thin
film deposition, University of Sciences, 2009.
[7] S. J. Bass, “Growth of semi-insulating
epitaxial gallium arsenide
by chromium doping in
the metal-alkyl + hydride system,” J.
Cryst.
Growth, vol. 44,
pp. 29–33, 1978.
[8] P.Kung and M.Razechi Optoelecronics Review
8(3) (2000) 201-239
[9] Russell D. Dupuis, Georgia Institute of
Technology
|